簡要描述:以共聚焦技術為原理的VT6000光學共聚焦掃描顯微鏡,是用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。儀器基于共聚焦顯微技術,結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,可以對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,實現(xiàn)器件表面形貌3D測量。
詳細介紹
品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 儀器種類 | 四轉盤共聚焦顯微鏡 |
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應用領域 | 電子,航天,汽車,綜合,材料領域 | 產地類別 | 國產 |
應用領域 | 電子,航天,汽車,綜合,材料領域 |
中圖儀器VT6000系列光學共聚焦掃描顯微鏡提供表征微觀形貌的輪廓尺寸測量功能,還提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能:
粗糙度分析包括依據(jù)標準的ISO4287的線粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全參數(shù)分析功能;
幾何輪廓分析包括臺階高、距離、角度、曲率等特征測量和直線度、圓度形位公差評定等功能;
結構分析包括孔洞體積和波谷深度等;
頻率分析包括紋理方向和頻譜分析等功能;
功能分析包括SK參數(shù)和體積參數(shù)等功能。
以共聚焦技術為原理的VT6000光學共聚焦掃描顯微鏡,是用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。儀器基于共聚焦顯微技術,結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,可以對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,實現(xiàn)器件表面形貌3D測量。在材料生產檢測領域中能對各種產品、部件和材料表面的面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、平面度、粗糙度、波紋度、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析??蓮V泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領域中。
1) 設備提供表征微觀形貌的輪廓尺寸測量功能;
2)一體化操作的測量與分析軟件,操作無須進行切換界面,預先設置好配置參數(shù)再進行測量,軟件自動統(tǒng)計測量數(shù)據(jù)并提供數(shù)據(jù)報表導出功能,即可快速實現(xiàn)批量測量功能。
3)提供調整位置、糾正、濾波、提取四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能。其中調整位置包括圖像校平、鏡像等功能;糾正包括空間濾波、修描、尖峰去噪等功能;濾波包括去除外形、標準濾波、過濾頻譜等功能;提取包括提取區(qū)域和提取剖面等功能。
4) 提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能。
5) 提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能,設置分析模板,結合測量中提供的自動測量和批量測量功能,可實現(xiàn)對小尺寸精密器件的批量測量并直接獲取分析數(shù)據(jù)的功能。
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