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  • VT61003d激光共聚焦形貌顯微鏡
    VT61003d激光共聚焦形貌顯微鏡

    自設(shè)計(jì)之初,VT6000系列3d激光共聚焦形貌顯微鏡便定下了“簡(jiǎn)單好用”四字方針的目標(biāo)。設(shè)備具備一體化操作的測(cè)量與分析軟件,預(yù)先設(shè)置好配置參數(shù)再進(jìn)行測(cè)量,軟件自動(dòng)統(tǒng)計(jì)測(cè)量數(shù)據(jù)并提供數(shù)據(jù)報(bào)表導(dǎo)出功能,即可快速實(shí)現(xiàn)批量測(cè)量功能.

    時(shí)間:2024-05-13型號(hào):VT6100訪問(wèn)量:792
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  • SuperViewW1白光干涉表面形貌儀
    SuperViewW1白光干涉表面形貌儀

    SuperViewW1白光干涉表面形貌儀用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量,可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)300余種2D、3D參數(shù)作為評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。

    時(shí)間:2024-05-13型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:773
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  • NS200臺(tái)階儀接觸式表面形貌測(cè)量?jī)x
    NS200臺(tái)階儀接觸式表面形貌測(cè)量?jī)x

    臺(tái)階儀是一種接觸式表面形貌測(cè)量?jī)x器,可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。中圖儀器NS系列臺(tái)階儀接觸式表面形貌測(cè)量?jī)x廣泛應(yīng)用于:大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所、半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體、高亮度LED、太陽(yáng)能、MEMS微機(jī)電、觸摸屏、汽車、醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)領(lǐng)域。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪問(wèn)量:874
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  • SuperViewW1國(guó)產(chǎn)三維白光干涉儀
    SuperViewW1國(guó)產(chǎn)三維白光干涉儀

    SuperViewW1國(guó)產(chǎn)三維白光干涉儀以白光干涉技術(shù)原理,結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量,通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。

    時(shí)間:2024-05-13型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:838
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  • SuperViewW1國(guó)產(chǎn)白光干涉顯微鏡
    SuperViewW1國(guó)產(chǎn)白光干涉顯微鏡

    SuperViewW1國(guó)產(chǎn)白光干涉顯微鏡以白光干涉技術(shù)為原理,結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌,用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。

    時(shí)間:2024-05-13型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:969
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  • VT6100激光共聚焦顯微成像儀
    VT6100激光共聚焦顯微成像儀

    VT6000激光共聚焦顯微成像儀配備了真彩相機(jī)并提供還原的3D真彩圖像,對(duì)細(xì)節(jié)的展現(xiàn)纖毫畢現(xiàn)。儀器整體結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,由一臺(tái)輕量化的設(shè)備主機(jī)和電腦構(gòu)成,控制單元集成在設(shè)備主機(jī)之內(nèi),亦可采用筆記本電腦驅(qū)動(dòng),實(shí)現(xiàn)了“拎著走”的便攜式設(shè)計(jì)。

    時(shí)間:2024-05-13型號(hào):VT6100訪問(wèn)量:868
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  • NS200中圖臺(tái)階儀
    NS200中圖臺(tái)階儀

    中圖臺(tái)階儀應(yīng)用場(chǎng)景適應(yīng)性強(qiáng),其對(duì)被測(cè)樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無(wú)特殊要求,能夠廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、太陽(yáng)能光伏、光學(xué)加工、LED、MEMS器件、微納材料制備等各行業(yè)領(lǐng)域內(nèi)的工業(yè)企業(yè)與高校院所等科研單位,其對(duì)表面微觀形貌參數(shù)的準(zhǔn)確表征,對(duì)于相關(guān)材料的評(píng)定、性能的分析與加工工藝的改善具有重要意義。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪問(wèn)量:952
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  • VT6100轉(zhuǎn)盤(pán)共聚焦高分辨率顯微鏡
    VT6100轉(zhuǎn)盤(pán)共聚焦高分辨率顯微鏡

    在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中,VT6000轉(zhuǎn)盤(pán)共聚焦高分辨率顯微鏡結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描,可測(cè)各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時(shí)間:2024-05-13型號(hào):VT6100訪問(wèn)量:745
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